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方块电阻测试仪ST-21最新报价
ST-21 ST-21H 说明书 参数 价格
方块电阻测试仪ST-21最新报价是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻;欢迎选购方块电阻测试仪ST-21最新报价。
CV-2000电容电压特性测试仪
CV-2000 说明书 参数 最新报价
CV-2000电容电压特性测试仪作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容)。加正向偏压时,PN结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压时,PN结势垒区变宽,势垒电容变小;欢迎选购CV-2000电容电压特性测试仪。
四探针测试台ST-102D价格
ST-102D 说明书 参数 最新报价
四探针测试台ST-102D价格,工作台面370mm*245mm;载物台直径4",可选二种放大倍数,14-90倍连续变倍;17.5-112.5倍连续变倍;欢迎选购四探针测试台ST-102D价格。
四探针测试仪RTS-3 (手持式)
RTS-3 说明书 参数 上海价格
四探针测试仪RTS-3 (手持式)测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计;体积仅为:185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高); 重量:350g;使用锂电池供电,一次充电可连续使用100小时;欢迎选购四探针测试仪RTS-3 (手持式)。
双电测四探针测试仪SDY-5
SDY-5 说明书 报价单
双电测四探针测试仪SDY-5采用了四探针双位组合测量技术,利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,从而提高了测量结果的准确度;欢迎选购双电测四探针测试仪SDY-5。
四探针测试仪RTS-2A价格
RTS-2 RTS-2A 说明书 参数 最新报价
四探针测试仪RTS-2A价格是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器;四探针测试仪RTS-2A价格请联系我们。
双电测四探针测试仪RTS-5
RTS-5 说明书 参数 价格
双电测四探针测试仪RTS-5采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响;欢迎选购双电测四探针测试仪RTS-5。
RTS-1345四探针测试系统
RTS-1345 说明书 参数 价格
RTS-1345四探针测试系统是运用四探针测量原理的多用途综合全自动测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器;欢迎选购 RTS-1345四探针测试系统。
ST-102A四探针测试台
ST-102A 说明书 参数 价格
ST-102A四探针测试台(英文叫Prober station,中文又称中测台,点测机。)、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试,适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试;欢迎选购ST-102A四探针测试台。
RTS-8数字式四探针测试仪
RTS-8 说明书 参数 价格
RTS-8数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器;欢迎选购RTS-8数字式四探针测试仪。
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